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SuperViewW1三維白光干涉儀采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統(tǒng)，高精度測量；隔振系統(tǒng)能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動，消除地面振動噪聲和空氣中聲波振動噪聲，保障儀器在大部分的生產(chǎn)車間環(huán)境中能穩(wěn)定使用，獲得高測量重復性。

在材料生產(chǎn)領域中，中圖共聚焦表面粗糙度測量顯微鏡能夠清晰地展示微小物體的圖像形態(tài)細節(jié)，顯示出精細的細節(jié)圖像。能測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

SuperViewW1白光干涉儀三維輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

MX3200顯微尺寸測量儀可用于精密機械、光通訊器件、精密模具、磁性材料、精密沖壓、手機精密配件、醫(yī)療器械、鐘表、刀具、計量檢測等領域，進行各種二維尺寸點、線、圓等的測量和形位公差的評價。

MX3200中圖顯微尺寸測量儀可用于精密機械零件、晶圓刻蝕微結構、器件精密裝配、精密電子、光纖、醫(yī)療器械、鐘表、刀具等領域。它將顯微成像與傳統(tǒng)影像測量相結合，實現(xiàn)了微小特征的大范圍測量。配置電動塔臺，可自動切換到不同的倍率，探測各種精密微觀二維尺寸特征。

共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細節(jié)要高于常規(guī)的光學顯微鏡。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細節(jié)更清晰更微細，橫向分辨率更高。VT6000轉盤共聚焦光學測量顯微鏡具有直觀測量的特點，能夠有效提高工作效率，更加快捷準確地完成日常任務。借助共聚焦顯微鏡，能有效提高工作效率，實現(xiàn)更準確的操作。