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光學(xué)輪廓儀白光干涉儀

簡(jiǎn)要描述:SuperViewW1光學(xué)輪廓儀白光干涉儀能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。

  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-08-10
  • 訪  問  量:708

詳細(xì)介紹

品牌中圖儀器適用行業(yè)其他
產(chǎn)地國產(chǎn)加工定制

SuperViewW1光學(xué)輪廓儀白光干涉儀能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。儀器具有測(cè)量精度高、功能全面、操作便捷、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精密器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測(cè)。并且其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測(cè)量。


結(jié)果組成:

1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,晶粒分析等;

2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖,輪廓線等;

3、表界面測(cè)量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;

4、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量;

5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量;

6、微電子表面分析和MEMS表征。


性能特點(diǎn)

1、3D測(cè)量

采用白光干涉技術(shù),結(jié)合具有抗噪性能的3D重建算法,真實(shí)還原樣品的每一個(gè)細(xì)節(jié),隨意翻轉(zhuǎn)縮放,輕松觀察、測(cè)量樣品的任意特征。

2、功能全

粗糙度、平面度、孔洞分析等3D測(cè)量功能全部囊括,距離、角度、直徑測(cè)量等2D輪廓分析功能覆蓋,有依據(jù)ISO|ASME|EUR|GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的300余種特征參數(shù)

3、操作便捷

直觀的操作界面,操作流程一目了然,自動(dòng)聚焦,一鍵實(shí)現(xiàn)測(cè)量過程;可視化的工作流程樹,一鍵激活的圖庫管理功能,所見即所得的分析功能,有一鍵分析功能,批量測(cè)量不用愁。

4、高重復(fù)精度

采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測(cè)量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性。



W1系列光學(xué)輪廓儀白光干涉儀提供1100單鏡頭手動(dòng)版和1200多鏡頭自動(dòng)版兩種機(jī)型,另可針對(duì)不同的客戶需求,在兩種型號(hào)間選取不同配置進(jìn)行組合,讓儀器切合客戶需求,貼心省力。


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